Специальная логика SN74BCT8374ADW

Товар отсутствует на складе.

Товар можно оформить под заказ.

Информация о продукте
Обозначение производителя:
SN74BCT8374ADW
Производитель:
Texas Instruments
Документ
Logic type Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Mounting type Surface Mount
Number of bits 8
Operating temperature 0°C ~ 70°C
Package / case 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Packaging Tube
Part status Active
Supplier device package 24-SOIC
Производитель Texas Instruments

Описание

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC